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半导体芯片

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精密高温老化试验箱

发布日期:2020/5/12 14:47:31  点击次数:9662
特点
•  高质量产品要求的可靠加热技术
• 用于橡、塑胶、电子等产品干燥、耐温性试验,主要测 试其材料在温度变化前后之强度、伸展率等之变化。加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
• 本产品适合按国家标准GB/T2423.2《电工电子产品环境 试验 试验B: 高温试验方法》 进行试验。 符合GB/ T2423.2试验方法标准要求。
•  具有超温保护/故障显示灯/安全警示标示等。

设计+技术参数

型号

WCOD-125

TYCOD-285

TYCOD-800

TYCOD-1000

内箱尺寸(W*H*D)mm

500X500X500

600X950X500

1000X1000X800

1000X1000X1000

外箱尺寸(W*H*D)mm

750X1200X740

800X1820X720

1200X1870X1080

1200X1870X1280

容积/L

125L

285L

800L

1000L

温度范围

RT + 5℃ ~ 200℃ (或+ 300℃)可选

温度分布均匀度

±2℃

温度稳定度

±1.5℃

内箱材料

SUS #304不锈钢

外箱材料

SECC + 粉体涂装

加热系统

平衡温度 P.I.D + P.L.C + S.S.R

电源

220VAC ±10% 1PH 50HZ / 380VAC 3P + N 50HZ

符合标准

GB/T2423.1; GB/T2423.2; GB/T2423.3; GB/T2423.4


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